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2018年第4號中國國家標準公告
發布時間:2018-03-29 20:39
2018年第4號中國國家標準公告

中華人民共和國國家標準

公告

2018年第4號

附件文件下載:2018年第4號

關于批準發布《半導體集成電路 電壓調整器測試方法》等20項國家標準的公告

國家質量監督檢驗檢疫總局、國家標準化管理委員會批準《半導體集成電路 電壓調整器測試方法》等20項國家標準,現予以公布(見附件)。

國家質檢總局 國家標準委

2018-03-15

序號 標準編號 標準名稱 代替標準號 實施日期
1 GB/T 4377-2018 半導體集成電路 電壓調整器測試方法 GB/T 4377-1996 2018-08-01
2 GB/T 14028-2018 半導體集成電路 模擬開關測試方法 GB/T 14028-1992 2018-08-01
3 GB/T 35001-2018 微波電路 噪聲源測試方法   2018-08-01
4 GB/T 35002-2018 微波電路 頻率源測試方法   2018-08-01
5 GB/T 35003-2018 非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法   2018-08-01
6 GB/T 35004-2018 數字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規范   2018-08-01
7 GB/T 35005-2018 集成電路倒裝焊試驗方法   2018-08-01
8 GB/T 35006-2018 半導體集成電路 電平轉換器測試方法   2018-08-01
9 GB/T 35007-2018 半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法   2018-08-01
10 GB/T 35008-2018 串行NOR型快閃存儲器接口規范   2018-08-01
11 GB/T 35009-2018 串行NAND型快閃存儲器接口規范   2018-08-01
12 GB/T 35010.1-2018 半導體芯片產品 第1部分:采購和使用要求   2018-08-01
13 GB/T 35010.2-2018 半導體芯片產品 第2部分:數據交換格式   2018-08-01
14 GB/T 35010.3-2018 半導體芯片產品 第3部分:操作、包裝和貯存指南   2018-08-01
15 GB/T 35010.4-2018 半導體芯片產品 第4部分:芯片使用者和供應商要求   2018-08-01
16 GB/T 35010.5-2018 半導體芯片產品 第5部分:電學仿真要求   2018-08-01
17 GB/T 35010.6-2018 半導體芯片產品 第6部分:熱仿真要求   2018-08-01
18 GB/T 35010.7-2018 半導體芯片產品 第7部分:數據交換的XML格式   2018-08-01
19 GB/T 35010.8-2018 半導體芯片產品 第8部分:數據交換的EXPRESS格式   2018-08-01
20 GB/T 35011-2018 微波電路 壓控振蕩器測試方法   2018-08-01

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